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本发明三维非正交跟踪扫描测头校准方法,属于精密仪器测量领域。是基于三维坐标测量系统,针对坐标测量机、精密数控机床等精密测量仪器设计的三维非正交跟踪扫描测头的校准方法,本方法通过三次项拟合解耦传感器耦合效应,配合相应的数据采集方法,引入自适应遗传算法求解,大大提高了校准的精度,并同时校准测头的外参数与内参数,简化了校准操作流程。该方法适用于三维非正交跟踪扫描测头。
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