
网站首页 > 专利信息
本发明公开了一种基于调制弱值放大技术的相位分布测量装置及方法,该相位分布测量装置设置有系统前选择态单元、第一相位补偿单元、系统后选择态单元,本发明主要基于标准量子弱值放大技术,以光偏振作为量子系统自由度,采用相位补偿策略,通过设置合适的第一相位补偿单元和系统后选择态单元,可对一个波长以内的任意相位实现高精度测量,是一种新型的、无损的直接光学传感测量技术,适用于生物医学、分析化学、材料学等多个技术领域的相位高精度测量及成像分析,具有重要应用价值。
联系电话:028-87659663 028-85404682 028-85460925 邮箱:cdjz617@126.com
办公地址:四川省成都市武侯区科华街10号四川大学国家高新技术孵化平台609
成都川大技术转移集团有限公司
蜀ICP备11025552号-1
Copyright © 2007-2011 技术支持:成都网络公司-三以网络