本发明公开了一种基于电磁震动的轻触开关引脚检测设备，包括电磁震动盘、三层螺旋进料斜面、螺旋筛选轨道、定向机构、二次缺陷筛选杆。其特征在于：电磁震动盘内部结构呈三层螺旋面，且电磁震动盘底部以及三层螺旋进料面均呈一定的倾斜度；在震动盘出口面环面设置螺旋轨道，在螺旋轨道上设置有缺陷引脚检测口；在螺旋轨道末端设置了一个定向机构，定向机构由定向挡条及两级加速斜面构成；在定向结构的末端设置缺陷元件二次筛选杆；最后，轻触开关元件进入垂直送料轨道。本发明由于采用了上述的技术方案，可以对大量的轻触开关引脚缺陷元件进行筛选，不仅能够降低图像识别过程中对引脚结构缺陷识别的工作量，提高轻触开关引脚缺陷的检测效率等优点，而且在检测过程中有效避免了对轻触开关元件的检测损伤，很好的保护了轻触开关引脚结构。