本发明提供一种基于相移量编码条纹级次的结构光三维测量方法，属于结构光三维测量领域。本发明所述方法包括编码正弦条纹、标定系统、估算成像面积、采集投影图像、确定条纹级次和建立系统像素对应关系六个步骤。本发明所述方法利用相移量预编码条纹级次，通过附加M帧正弦条纹的相移量对条纹级次进行唯一编码，减少了编码高频条纹的条纹级次所需图像的数量；该方法利用相位信息作为编码单位，相比利用灰度信息为编码单位的二值条纹编码方法，具有更强的抗噪性；且条纹级次计算的独立性高，运用图形处理器（Graphics Processing Unit，GPU）对其进行加速，保证了所述测量方法的时效性。