本发明提供一种用于测量晶体在高压下溶解度的装置，包括压砧组件，所述压砧组件包括砧面相对的上压砧、下压砧，上压砧、下压砧之间设置密封垫，所述密封垫的内圈与所述上压砧、下压砧的砧面围成密封溶剂槽，所述溶剂池内填充溶剂，待测样品浸于溶剂内且设置于密封垫的内圈处，其中，所述待测样品由待测晶体与非溶基体混合后压致成型的块体，所述溶剂为待测晶体的饱和溶液。本发明提供的用于测量晶体在高压下溶解度的装置与方法，通过在压砧内部引入溶剂池的方法，可突破高压样品腔体积的限制，实现利用高压原位衍射(中子衍射及x衍射均可)直接测量晶态物质在高压下的溶解度这一目的。