
网站首页 > 专利信息
本实用新型公开了一种孔深测量机构及孔深测量装置,涉及孔深测量技术领域。该孔深测量机构包括基座、激光探测组件、位移测量组件以及驱动执行组件。驱动执行组件固定设置于基座且包括运动件,运动件与激光探测组件连接且带动激光探测组件沿第一方向滑动,位移测量组件包括滑动配合的定尺和动尺,定尺与基座固定连接,动尺与激光探测组件固定连接。激光探测组件包括激光发生组件和控制器,控制器与激光发生组件电连接。该孔深测量机构设计合理,操作方便,能够针对通孔和盲孔进行孔深的测量,误差小,精度高,且测量快速,适用于自动化生产线中使用,使用范围广。
联系电话:028-87659663 028-85404682 028-85460925 邮箱:cdjz617@126.com
办公地址:四川省成都市武侯区科华街10号四川大学国家高新技术孵化平台609
成都川大技术转移集团有限公司
蜀ICP备11025552号-1
Copyright © 2007-2011 技术支持:成都网络公司-三以网络