本发明公开了一种简便快速检测半导体纳米晶中的中间体类物质的方法。所述方法以含有元素周期表ⅡB族、ⅢA和IVA族中至少一种金属元素的成分，以及ⅥA族和ⅤA族中至少一种非金属元素的成分为原料，加热反应后，制备得到半导体纳米晶类物质，稀释于惰性有机溶剂中，通过添加极性质子类试剂将中间体类物质转化为魔尺寸纳米簇，再通过紫外可见分光光度计检测光谱的变化来判断中间体类物质是否存在。本发明所述方法通过紫外可见光谱极为方便地确定反应制备半导体纳米晶中是否含有中间体，能够帮助快速鉴别从而得到更纯净的半导体纳米晶，使其更好地应用到发光二极管、太阳能电池等领域。